SRM 3600 小角度X射線散射絕對強度校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)品

SRM 3600 小角度X射線散射強度校準(zhǔn) 旨在用于小角度 X 射線散射 (SAXS) 儀器的散射強度校準(zhǔn)。 SAXS 測量表征了異質(zhì)材料系統(tǒng)的微觀結(jié)構(gòu)和納米結(jié)構(gòu)：特別是微米級和納米級特征的尺寸分布，以及散射強度校準(zhǔn)，它們的體積分?jǐn)?shù)或數(shù)量濃度，以及它們的表面積 [1]。

規(guī)格：

 SRM 3600 的一個單元由一個大約尺寸為 10 mm x 10 mm x 1 mm 的玻璃碳試樣組成。

認(rèn)證值：

認(rèn)證值是絕對 X 射線散射強度，以每單位玻璃碳樣品體積的 X 射線微分散射截面 dΣ/dΩ 與散射矢量的幅度 Q 的關(guān)系給出.圖 1 顯示了超小角 X 射線散射 (USAXS) 儀器的示意圖，該儀器是用于測量經(jīng)認(rèn)證的 X 射線散射強度值的主要儀器。經(jīng)認(rèn)證的 dΣ/dΩ 值列于表 1 中經(jīng)認(rèn)證的 Q 范圍為 0.008 ?–1 至 0.25 ?–1，并繪制在圖 2 中。 NIST 認(rèn)證值是 NIST 對其準(zhǔn)確性有最高置信度的值，因為所有已知或可疑的偏差來源都已被調(diào)查或考慮 [2]。認(rèn)證值基于在環(huán)境條件下進行的測量。

信息值：

NIST SRM 3600小角度X射線散射強度校準(zhǔn) 試樣的平均厚度是 1.055 毫米 ± 0.025 毫米，基于對 56 個試樣中的每一個進行兩次獨立的微米厚度測量。與數(shù)值一起列出的不確定性是覆蓋因子 k = 2 的擴展不確定性，對應(yīng)于 95% 的置信區(qū)間，預(yù)期單個試樣，并且來自重復(fù)測量的標(biāo)準(zhǔn)偏差。信息值被認(rèn)為是可能對 SRM 用戶有用的值，但沒有足夠的信息來評估與該值相關(guān)的不確定性或僅是有限的

儲存和使用說明

儲存：SRM 3600 應(yīng)儲存在提供的塑料膜盒內(nèi)，環(huán)境干燥，遠離過多的水分或熱量（最高 60 °C）。 SRM 3600 玻璃碳材料已被證明可在較長時間內(nèi)保持穩(wěn)定，用于校準(zhǔn)目的，在這些儲存條件下具有無限的保質(zhì)期 [5]。

用途：要使用 SRM 3600 使用帶有二維 (2D) 位置敏感檢測器 (PSD) 的傳統(tǒng) SAXS 儀器為“未知”樣品提供 SAXS 強度校準(zhǔn)，必須遵循幾個步驟。使用根據(jù)需要使用衰減器來保護 2D PSD 免受入射 X 射線束的影響（空白、樣品和標(biāo)準(zhǔn)品的衰減相同），測量樣品 TS 和標(biāo)準(zhǔn)品 TSTD 相對于入射光束（空白) 在 Q = 0 處測量的強度，其中 Q = (4π/λ)sinθ，λ 是 X 射線波長，θ 是一半散射角 [1]。還可以從這些傳輸測量中確定 2D PSD 上的入射光束位置。然后，用一個光束擋板保護 2D PSD 免受入射 X 射線束的影響，在相同條件下對“未知”樣品、空白（不存在樣品）和電子背景（X 射線）進行 SAXS 測量光束關(guān)閉）和 SRM 3600 標(biāo)準(zhǔn)試樣。將每個 2D PSD 像素的所有測量強度歸一化為入射光束強度，然后減去每個像素的電子背景。對于樣品和標(biāo)準(zhǔn)品，分別減去每個 PSD 像素的空白散射，分別由因子 TS 或 TSTD 衰減。然后相對于探測器上的入射光束位置（Q = 0 的位置）對 2D PSD 數(shù)據(jù)進行循環(huán)平均，并除以各自的透射率 TS 或 TSTD 以及樣品或標(biāo)準(zhǔn)厚度 τS 或 τSTD。請注意，對于 SRM 3600，應(yīng)使用 τSTD = 1.055 mm。

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