SRM 2820 洛氏硬度30N刻度-中檔范圍標準品(公稱64 HR30N)

SRM 2820洛氏硬度30N刻度-中檔范圍（標準品）是一種轉移標準，主要用于使用洛氏硬度 30N 標度 (HR30N) 校準和驗證洛氏硬度設備的性能。

品牌：美國NIST

規格：1 block

SRM 2821 洛氏硬度30N刻度-高量程(公稱79 HR30N)標準品

SRM 2821洛氏硬度30N刻度-高量程（標準品）是一種轉移標準，主要用于使用洛氏硬度 30N 標度 (HR30N) 校準和驗證洛氏硬度設備的性能。

品牌：美國NIST

規格：1 block

SRM 2828 鋼的Knoop顯微硬度標準品

SRM2828 鋼的努氏顯微硬度(標準品)旨在用作校準努氏型顯微硬度計的主要標準，并通過 4.90 N (0.500 kgf) 載荷下的平均努氏硬度值認證。

品牌：美國NIST

規格：each

SRM 2830 陶瓷的Knoop硬度標準品

SRM2830 鋼的努氏硬度(標準品)用于校準硬度測試儀。T被認證為平均對角線長度和平均硬度值。

品牌：美國NIST

規格：each

SRM 2831 陶瓷和硬質合金的維氏硬度標準品

SRM2831陶瓷和硬質合金的維氏硬度（標準品）旨在用于校準所有硬度和顯微硬度試驗機，通過該試驗機進行維氏壓痕，然后用顯微鏡進行測量。

品牌：美國NIST

規格：each

SRM 2841 半導體薄膜：Alx鎵1-xAs外延層(Al摩爾分數)x (接近0.20)

SRM2841半導體薄膜：AlxGa1-xAs外延層（標準品）旨在用作測量薄膜成分的分析方法的參考標準，例如電子微探針分析 (EMPA)、光致發光 (PL)、俄歇電子能譜 (AES) 和 X 射線光電子能譜（XPS）。

品牌：美國NIST

規格：disk

SRM 2842 半導體薄膜：Alx鎵1-xAs外延層(Al摩爾分數x接近0.30)標準品

SRM2842半導體薄膜：AlxGa1-xAs外延層（標準品） 旨在用作測量薄膜成分的分析方法的參考標準，例如電子微探針分析 (EMPA)、光致發光 (PL)、俄歇電子能譜 (AES) 和 X 射線光電子能譜（XPS）。

品牌：美國NIST

規格：disk

SRM 2855 聚乙烯中的添加劑元素標準品

SRM 2855聚乙烯中添加劑元素(標準品)用于校準或評估聚合物元素分析方法。

品牌：美國NIST

規格：3 Levels, 80 g each

SRM 2860 聚氯乙烯中的鄰苯二甲酸酯標準品

SRM 2860 - 聚氯乙烯中的鄰苯二甲酸鹽主要用于驗證測定聚氯乙烯 (PVC) 中六種鄰苯二甲酸酯的方法。

品牌：美國NIST

規格：2 levels, 1 blank; 2 g